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[检测百科]分享：某发射筒端盖开盖性能异常原因2022年10月24日 14:06: 某发射筒端盖在进行开盖性能测试时出现形态异常现象。采用 X 射线检测、仿真分析等方法对该端盖形态异常的原因进行了分析。结果表明:端盖中的金属增强材料偏移至应力沟槽, 试验方法选用不当,导致了该端盖在测试时形态异常; 偏移至应力沟槽,动态开盖试验方法也可以避免端盖在 X 测射试线时检出测现可形以态发异现常端。盖中的金属增强材料; 阅读（4）标签：