国检检测欢迎您!

微信公众号|腾讯微博|网站地图

您可能还在搜: 无损检测紧固件检测轴承检测上海综合实验机构

社会关注

分享:某发射筒端盖开盖性能异常原因

返回列表 来源:国检检测 查看手机网址
扫一扫!分享:某发射筒端盖开盖性能异常原因扫一扫!
浏览:- 发布日期:2022-10-24 14:06:24【

蔡 泽1,武丽丽1,柯贤朝2

(1.上海航天精密机械研究所,上海 201600; 2.上海材料研究所 上海市工程材料应用与评价重点实验室,上海 200437

摘 要:某发射筒端盖在进行开盖性能测试时出现形态异常现象采用 X 射线检测仿等方法对该端盖形态异常的原因进行了分析结果表明:端盖中的金属增强材料偏移至, 试验方法选用不当,导致了该端盖在测试时形态异常; 偏移至应力沟槽,动态开盖试验方法也可以避免端盖在 X 测 射 试 线 时 检 出 测 现 可 形 以 态 发 异 现 常 端 盖中的金属增强材料 

关键词:发射筒端盖;开盖形态;X射线检;仿中图分类号:TG131 文献标志码:B :1001-4012(2022)07-0038-03


某发射筒端盖由模塑料和金属增,其内表面有6条沟槽,正常情况下,能测试时,端盖会沿沟槽破裂为6(1)中金属增强材料的作用是使试验后的碎块不脱落

采用静态开盖试验方法(缓慢加压直至端盖被 破坏)对端盖进行开盖性能测试时,仅有4块碎块,另外2块碎块连,沿,面有裂纹但未裂开,,开盖 形态异常(见图2)。 


对端盖进行检查,在未翻转碎块上的裂纹处可 1 端盖盖宏隐 约看到金属增强材料,初步推断金属增强材料发生了偏移物理盖中的金属增 强材料暴露出来,来验证金属增强材料是否偏移的由于模塑料和金属增强材料之间结合力较好,采用 该方法会不准确,因此笔者采用无损检测方法来确 定端盖中金属增强材料的偏移状态复合材料无损 检测的方法有超声检测X射线检测红外热成像检测等[1]X射线检测技术具有不受材料 种类的影响,检测结果直观可靠[2],广复合材料的检测中[3-5]笔者采用 X 射线检测方法 对端盖进行无损检测


1 X射线检测

对开盖形态异常的端盖进行 X射线检测根据 X射线胶片的清晰,:, 焦距为1200mm,压为80kV,5mA,时间为3min,显影时在20下处理5min,间为30min开盖形态异常端盖的 X射线检测结 果如图3所示,由图3可知:连在1 块的金属增强材料发生了偏移,由此常与金属增强材料偏移至沟槽有关


2 仿真分析 

为分析金属增强材料偏移至沟槽对开盖形态的 影响,对端盖进行了仿真分析正常端盖模型如图 4所示

金属增强材料偏移至沟槽的极限情况为2属增强材料连接为一个整体,为了简化计算,采用限情况进行仿真分析,金属增强材料偏移至沟槽的 端盖仿真模型如图5所示


根据端盖进行开盖性能测试时的实际工况,盖环施 加 全 约 束,在 盖 体 内 表 面 施 加 均 布 载 荷 0.1MPa(载荷方向指向外表面为正)。6为正常状态下开,7金属增强材料偏移至沟槽后开盖性能测试时最大应 区域6,7:,6沟槽的应,;材料偏移至沟槽,2片金属叶片连在一起时应力分 布发生变化,金属材料发生偏移的沟槽应力明显变 ,6条应力沟槽不,盖形态会发生变化,旦盖体破裂会导致泄压,其中应力较小的沟槽可能 不开裂,发生偏移的沟槽因无法开裂而连在一起,时泄压导致碎块翻转动力下降,极限情况会出现碎 块不翻转


3 试验模拟

采用飞行试验方法对端盖进行开盖性能测试 ,发现金属增强材料发生偏移的端盖仍会正常开 对采用飞行试验方法测试的端盖进行 X 射线 检测,发现端盖中的金属增强材料偏移至沟槽,但开 盖形态正常(见图8)。

同样是金属增强材料发生偏移,采用静态开盖 试验方法时出现了开盖形态异常,而采用飞行试验 方法时开盖形态正常,飞行试验方法中端盖会瞬间 开盖,两种试验方法明显不同,由此推断试验方法也 是导致端盖开盖形态异常的原因之一


为验证试验方法对开盖形态的影响,需模拟发 射试验环境,而动态开盖是一种可以模拟发射试验 环境的试验方法,该方法可瞬间释放大量气体,在很 短时间内对端盖产生压力使端盖被破坏,动态开盖 试验方法如图9所示对金属增强材料偏移至沟槽 的端盖进行动态开盖性能试验,试验结果如图10,端盖的 X 射线检测结果如图11所示,10, 11可知:采用动态开盖试验方法时,金属跨过应力沟槽不影响开盖形态,端盖依然破裂为6试验模拟结果表明,开盖试验方法选择不当是 开盖形态异常的原因之一,动态开盖试验方法更接 近端盖的实际使用工况。 

4 结论与建议 

X射线检测和仿真分析结果表明:金属增强材 料偏移至沟槽会导致端盖开盖形态异常对比金属 增强材料偏移至沟槽的端盖,在静态开盖试验方法 和动态开盖试验方法时的开盖形态,发现静态开盖 试验方法会导致开盖形态异常,动态开盖试验方法 的开盖形态正常,表明试验方法选择不当会导致开 盖形,, 属增

为避免开盖形态异常,在后续端盖的生产过程 X线的状,将金 ,动态开盖方式进行开盖性能测试

参考文献:

[1] 唐国栋.航空[J].国设备工程,2020(19):12-13

[2] 董方旭,王从,,.X 线料检测中的应用与发展[J].,2016,38(2): 67-72.

[3] 杨永锋,培得.线检测[J]., 2014,7(12):119-123. 

[4] 张海兵,,张浩然.X射线成像技术在飞机复合 材料检测中的应用[J].航空维修与工程,2009(6):81- 82. [5] .X线[J].,2018(23):98

推荐阅读

    【本文标签】:某发射筒端盖开盖性能异常原因分析 国检检测 金属材料检测机构
    【责任编辑】:国检检测版权所有:转载请注明出处

    最新资讯文章